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EM Micro Probes | Chip Scanner (modified probe station) | Oscilloscope | Low Noise Amplifier | PCB Test Fixtures with Probe Positioning System | EM Probes | Active Differential Probes awarded

Veroeffentlicht
16.09.2025
Frist
-
Laufzeit
-
Geschaetzter Wert
-
Land
DE
IT-Relevanz
★★☆☆☆ (2/5)
Hardware-Relevanz
★★☆☆☆ (2/5)
Vergabedatum
02.09.2025
Vertragstyp
Unbekannt
Region (NUTS)
München, Kreisfreie Stadt
CPV-Codes
Elektronische Messgeräte Sonden für Ultraschalldesintegratoren Chromatografische Scanner Oszilloskope Verstärker Laborwerkzeugträger Apparate und Geräte zum Prüfen und Testen
Quelle
ted_europa | Originalquelle ↗
Notice ID
603509-2025

Beschreibung

EM Micro Probes | Chip Scanner (modified probe station) | Oscilloscope | Low Noise Amplifier | PCB Test Fixtures with Probe Positioning System | EM Probes | Active Differential Probes

Hersteller (0)

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Lose (7)

Los Titel Auftragnehmer Hersteller Schaetzwert Vergabewert
1 EM Micro Probes
2 Chip Scanner (modified probe station)
3 Oscilloscope
4 Low Noise Amplifier
5 PCB Test Fixtures with Probe Positioning System
6 EM Probes
7 Active Differential Probes

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