Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Spektrometer beschaffen, um das Transmissionsspektrum passiver integriert-optischer Schaltkreise, wie etwa Mikroringresonatoren mit hohen Gütezahlen, hochaufgelöst vermessen zu können. Außerdem sollen die Seitenbanden von elektrooptischerzeugten Frequenzkämmen untersucht werden. Aus diesen technischen Randbedingungen ergeben sich die folgenden Anforderungen: siehe Anlage 2